-
1 microscope
-
2 microscope illumination
освещение объекта ( или препарата) в микроскопииАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > microscope illumination
-
3 microscope illuminator
осветитель ( для) микроскопа; осветительное устройство микроскопаАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > microscope illuminator
-
4 microscope objective (lens)
микрообъектив; объектив микроскопаАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > microscope objective (lens)
-
5 microscope objective (lens)
микрообъектив; объектив микроскопаАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > microscope objective (lens)
-
6 Linear field of a microscope in the object space
Linear field of a microscope in the object space
43
Источник: ГОСТ 28489-90: Микроскопы световые. Термины и определения оригинал документа
Русско-английский словарь нормативно-технической терминологии > Linear field of a microscope in the object space
-
7 center locating microscope
микроскоп-центроискатель (напр., для координатно-расточных станков); см. также locating microscopeАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > center locating microscope
-
8 hologram microscope
Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > hologram microscope
-
9 Atomic Force Microscope
(AFM)Атомно-силовой микроскоп (АСМ)Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом. Здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса. Регистрация малых изгибов кантилевера осуществляется оптическим методом. В основном используются два режима измерений – контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Возможно исследование как проводящих, так и непроводящих поверхностей, в том числе и через слой жидкости. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г.Биннигом и К.Гербером в США.♣ Принцип работы атомно-силового микроскопаRussian-English dictionary of Nanotechnology > Atomic Force Microscope
-
10 electron microscope
Электронный микроскопМикроскоп, позволяющий получать сильно увеличенное изображение объектов, используя рассеяние электронов. В отличие от оптического микроскопа, в электронном микроскопе используют потоки электронов и магнитные или электростатические линзы. Некоторые электронные микроскопы позволяют увеличивать изображение в 2 млн. раз, в то время как максимальное увеличение лучших оптических микроскопов достигает 2000 раз. Как электронные, так и оптические микроскопы имеют ограничения в разрешающей способности в зависимости от длины волн. В электронных микроскопах используются электростатические или электромагнитные линзы для формирования изображения путем управления пучком электронов и концентрации его на отдельных участках объекта подобно тому, как оптический микроскоп использует стеклянные линзы для создания изображения в заданной плоскости.Russian-English dictionary of Nanotechnology > electron microscope
-
11 scanning electron microscope
(SEM)Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется сфокусированным электронным пучком средних энергий. В зависимости от механизма регистрации сигнала различают несколько режимов работы сканирующего электронного микроскопа: режим отражённых электронов, режим вторичных электронов, режим катодолюминесценции и т. д. Разработанные методики позволяют исследовать не только свойства поверхности образца, но и визуализировать и получать информацию о свойствах подповерхностных структур.
Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Электроны, идущие от источника, ускоряются и фокусируются в узкий пучок на образце. Этот пучок перемещается по образцу отклоняющими катушками с током. Детекторы, расположенные выше образца, регистрируют рентгеновское излучение, вторичные и отраженные электроны. Электроны, прошедшие сквозь тонкий образец, регистрируются кольцевым детектором или, пройдя через энергетический анализатор, используются для формирования изображения на экране. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – магнитная линза; 4 – отклоняющие катушки; 5 – образец; 6 – детектор отраженных электронов; 7 – кольцевой детектор; 8 – анализатор.Russian-English dictionary of Nanotechnology > scanning electron microscope
-
12 scanning tunneling microscope
(Scanning Tunneling Microscope)Сканирующий туннельный микроскопПрибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой), находящимся под потенциалом, поверхности образца, и одновременном измерении туннельного тока между острием и образцом. В процессе сканирования игла движется вдоль образца, туннельный ток поддерживается стабильным за счёт действия обратной связи и удаление следящей системы меняется в зависимости от топографии поверхности. Такие изменения фиксируются и на их основе строится карта высот. Ограничения на использование метода накладываются, во-первых, условием проводимости образца (поверхностное сопротивление должно быть не больше 20 МОм/см²). Во-вторых, глубина канавки должна быть меньше её ширины, потому что в противном случае может наблюдаться туннелирование с боковых поверхностей.
Схема работы СТМ: а) в режиме постоянной высоты; б) в режиме постоянного токаRussian-English dictionary of Nanotechnology > scanning tunneling microscope
-
13 transmission electron microscope
(TEM)Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)Прибор, создающий увеличенное до transmission electron microscope106 раз изображение образца с помощью электронного пучка (1 – 5000 кэВ), проходящего через образец. Электронный пучок формируется электронной пушкой и конденсорными линзами с апертурой и фокусируется на исследуемом образце, который располагается на трехкоординатном нанопозиционере. С помощью электромагнитной линзы объектива и линзы проектора электронное изображение фокусируется на люминесцентный экран. Электроны возбуждают экран и формируют увеличенное изображение исследуемого объекта, которое может регистрироваться телевизионной камерой. ПЭМ используют для наблюдения изображения объектов в светлом и темном полях, а также изучения структуры объектов методом электронографии.
Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)Электроны ускоряются, а затем фокусируются магнитными линзами. Увеличенное изображение, создаваемое электронами, которые проходят через диафрагму объектива, преобразуется люминесцентным экраном в видимое или регистрируется на фотопластинке. В ПЭМ можно получить увеличение до 1 млн. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – диафрагма; 4 –конденсорная линза; 5 – образец; 6 – объективная линза; 7 – диафрагма; 8 – проекционная линза; 9 – экран или пленка; 10 – увеличенное изображение.Russian-English dictionary of Nanotechnology > transmission electron microscope
-
14 (сокр . от) environmental scanning electron microscope = экологический сканирующий электронный микроскоп, ЭСЭМ
Ecology: ESEMУниверсальный русско-английский словарь > (сокр . от) environmental scanning electron microscope = экологический сканирующий электронный микроскоп, ЭСЭМ
-
15 Computer Evaluation of Scanning Electron Microscope Images
Astronautics: CESEMIУниверсальный русско-английский словарь > Computer Evaluation of Scanning Electron Microscope Images
-
16 Confocal Laser Scanning Microscope Systems
Abbreviation: CLSMУниверсальный русско-английский словарь > Confocal Laser Scanning Microscope Systems
-
17 Field Iron Microscope
Chemistry: FINУниверсальный русско-английский словарь > Field Iron Microscope
-
18 High Resolution Scanning Electron Microscope
Biochemistry: HRSEMУниверсальный русско-английский словарь > High Resolution Scanning Electron Microscope
-
19 Laser Scanning Microscope
Electronics: LSMУниверсальный русско-английский словарь > Laser Scanning Microscope
-
20 Light Microscope
Biochemistry: LM
См. также в других словарях:
Microscope Optique — Pour les articles homonymes, voir Microscope. Un microscope optique de base. Le m … Wikipédia en Français
Microscope photonique — Microscope optique Pour les articles homonymes, voir Microscope. Un microscope optique de base. Le m … Wikipédia en Français
Microscope à fond noir — Microscope optique Pour les articles homonymes, voir Microscope. Un microscope optique de base. Le m … Wikipédia en Français
microscope — [ mikrɔskɔp ] n. m. • 1656; lat. mod. microscopium (1618), du gr. ♦ Instrument d optique qui permet de voir des objets invisibles à l œil nu grâce à un système de lentilles. Microscope qui grossit mille fois. Étude, examen des objets visibles au… … Encyclopédie Universelle
Microscope Confocal — Pour les articles homonymes, voir Microscope. Un microscope confocal est un microscope optique qui a la propriété de réaliser des images de très faible profondeur de champ (environ 400 nm) appelées « sections optiques ». En… … Wikipédia en Français
Microscope Confocal À Balayage Laser — Microscope confocal Pour les articles homonymes, voir Microscope. Un microscope confocal est un microscope optique qui a la propriété de réaliser des images de très faible profondeur de champ (environ 400 nm) appelées « sections… … Wikipédia en Français
Microscope confocal a balayage laser — Microscope confocal Pour les articles homonymes, voir Microscope. Un microscope confocal est un microscope optique qui a la propriété de réaliser des images de très faible profondeur de champ (environ 400 nm) appelées « sections… … Wikipédia en Français
Microscope confocal à balayage laser — Microscope confocal Pour les articles homonymes, voir Microscope. Un microscope confocal est un microscope optique qui a la propriété de réaliser des images de très faible profondeur de champ (environ 400 nm) appelées « sections… … Wikipédia en Français
Microscope laser confocal à balayage — Microscope confocal Pour les articles homonymes, voir Microscope. Un microscope confocal est un microscope optique qui a la propriété de réaliser des images de très faible profondeur de champ (environ 400 nm) appelées « sections… … Wikipédia en Français
Microscope laser confocale à balayage — Microscope confocal Pour les articles homonymes, voir Microscope. Un microscope confocal est un microscope optique qui a la propriété de réaliser des images de très faible profondeur de champ (environ 400 nm) appelées « sections… … Wikipédia en Français
Microscope a effet tunnel — Microscope à effet tunnel Pour les articles homonymes?, voir Microscope … Wikipédia en Français
